導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀是測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)的儀器，材料的導(dǎo)熱系數(shù)不僅與材料的物質(zhì)種類有關(guān)，而且與它的微觀結(jié)構(gòu)、填料含量等有密切聯(lián)系。在科學(xué)實(shí)驗(yàn)和工程設(shè)計(jì)中，所用材料的導(dǎo)熱系數(shù)都需要用實(shí)驗(yàn)的方法精確測(cè)定。導(dǎo)熱系數(shù)的測(cè)定方法發(fā)展到現(xiàn)在已經(jīng)有了許多種，它們有不同的適用領(lǐng)域、測(cè)量范圍、精度、準(zhǔn)確度和試樣尺寸要求等，不同方法對(duì)同一樣品的測(cè)量結(jié)果可能會(huì)有較大的差別，因此選擇合適的測(cè)試方法是首要的。
 

　　目前導(dǎo)熱系數(shù)的測(cè)定方法分為穩(wěn)態(tài)法和非穩(wěn)態(tài)法兩大類，具有各自不同的測(cè)試原理。在導(dǎo)熱硅膠行業(yè)中，常見的測(cè)試方法是穩(wěn)態(tài)熱板法，瞬態(tài)平面熱源法。導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀，兩種測(cè)試方法的說明如下：
 

　　一、薄型導(dǎo)熱固態(tài)電絕緣材料熱傳輸特性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
 

　　該方法采用的是通常所說的穩(wěn)態(tài)熱流法，其測(cè)試原理是將一定厚度的樣品置于上下兩個(gè)平板間，對(duì)樣品施加一定的熱流量和壓力，使用熱流傳感器測(cè)量通過樣品的熱流、測(cè)試樣品的厚度、熱板/冷板間的溫度梯度，然后得出不同厚度下對(duì)應(yīng)的熱阻數(shù)據(jù)作直線擬合得出樣品的導(dǎo)熱系數(shù)。
 

　　這種方法的優(yōu)點(diǎn)是：
 

　　①可以測(cè)試產(chǎn)品的熱阻與導(dǎo)熱系數(shù)；
 

　　②特別適合模擬產(chǎn)品在實(shí)際工況下的使用狀態(tài)。缺點(diǎn)是對(duì)產(chǎn)品的厚度有一定要求；
 

　?、劢佑|熱阻會(huì)影響測(cè)試結(jié)果；
 

　?、転榱说竭_(dá)穩(wěn)態(tài)，測(cè)試所需時(shí)間較長(zhǎng)。
 

　　二、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀熱傳導(dǎo)率和熱擴(kuò)散率的測(cè)定
 

　　瞬態(tài)平面熱源法(TPS)是目前研究材料導(dǎo)熱性能的方法中比較方便、精確的一種，由熱線法改進(jìn)而來(lái)。這種方法采用一個(gè)瞬間熱平面探頭(HotDisk探頭)，我們也將其稱之為HotDisk法。HotDisk探頭由熱阻性材料鎳制成，包覆有絕緣材料(聚酰亞胺，云母等)，探頭帶自加熱功能。
 

　　這種方法的原理是，將帶有自加熱功能的溫度探頭放置于樣品中，測(cè)試時(shí)在探頭上施加一個(gè)恒定的加熱功率，使其溫度上升。鎳的熱電阻系數(shù)—溫度和電阻的關(guān)系呈線性關(guān)系，即可通過了解電阻的變化可以知道熱量的損失，從而反映樣品的導(dǎo)熱性能。然后測(cè)量探頭本身和與探頭相隔一定距離的圓球面上的溫度隨時(shí)間上升的關(guān)系，通過數(shù)學(xué)模型擬合同時(shí)得到樣品的導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)。